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深圳市中圖儀器股份有限公司

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晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):WD4000

品       牌:CHOTEST/中圖儀器

廠商性質(zhì):生產(chǎn)商

所  在  地:深圳市

更新時(shí)間:2024-05-14 07:18:43瀏覽次數(shù):865次

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WD4000系列晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù),,完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖,,自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度,、表面粗糙度,、三維形貌,、單層膜厚,、多層膜厚,,實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV,、LTV,、Bow、Warp,、TIR,、SORI、等反應(yīng)表面形貌的參數(shù),。

WD4000系列晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù),、光干涉雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖,,自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度,、表面粗糙度、三維形貌,、單層膜厚,、多層膜厚,,實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV,、LTV,、Bow、Warp,、TIR,、SORI、等反應(yīng)表面形貌的參數(shù),。

1,、使用光譜共焦對(duì)射技術(shù)測(cè)量晶圓Thickness、TTV,、LTV,、BOW、WARP,、TIR,、SORI等參數(shù),同時(shí)生成Mapping圖,;

2,、采用白光干涉測(cè)量技術(shù)對(duì)Wafer表面進(jìn)行非接觸式掃描同時(shí)建立表面3D層析圖像,顯示2D剖面圖和3D立體彩色視圖,,高效分析表面形貌,、粗糙度及相關(guān)3D參數(shù);

3,、基于白光干涉圖的光譜分析儀,,通過(guò)數(shù)值七點(diǎn)相移算法計(jì)算,達(dá)到亞納米分辨率測(cè)量表面的局部高度,,實(shí)現(xiàn)膜厚測(cè)量功能,;

4、紅外傳感器發(fā)出的探測(cè)光在Wafer不同表面反射并形成干涉,,由此計(jì)算出兩表面間的距離(即厚度),,可適用于測(cè)量BondingWafer的多層厚度。該傳感器可用于測(cè)量不同材料的厚度,,包括碳化硅,、藍(lán)寶石、氮化鎵,、硅等,。

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測(cè)量功能

1、厚度測(cè)量模塊:厚度,、TTV(總體厚度變化),、LTV,、BOW、WARP,、TIR,、SORI、平面度,、等,;

2、顯微形貌測(cè)量模塊:粗糙度,、平整度,、微觀幾何輪廓、面積,、體積等,。

3、提供調(diào)整位置,、糾正、濾波,、提取四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能,。其中調(diào)整位置包括圖像校平、鏡像等功能,;糾正包括空間濾波,、修描、尖峰去噪等功能,;濾波包括去除外形,、標(biāo)準(zhǔn)濾波、過(guò)濾頻譜等功能,;提取包括提取區(qū)域和提取剖面等功能,。

4、提供幾何輪廓分析,、粗糙度分析,、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析,、功能分析等五大分析功能,。幾何輪廓分析包括臺(tái)階高、距離,、角度,、曲率等特征測(cè)量和直線度、圓度形位公差評(píng)定等,;粗糙度分析包括國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO4287的線粗糙度,、ISO25178面粗糙度,、ISO12781平整度等全參數(shù);結(jié)構(gòu)分析包括孔洞體積和波谷,。

WD4000系列晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備可廣泛應(yīng)用于襯底制造,、晶圓制造、及封裝工藝檢測(cè),、3C電子玻璃屏及其精密配件,、光學(xué)加工、顯示面板,、MEMS器件等超精密加工行業(yè),。可測(cè)各類包括從光滑到粗糙,、低反射率到高反射率的物體表面,,從納米到微米級(jí)別工件的厚度、粗糙度,、平整度,、微觀幾何輪廓、曲率等,,提供依據(jù)SEMI/ISO/ASME/EUR/GBT四大國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)300余種2D,、3D參數(shù)作為評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。


產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

1,、非接觸厚度,、三維維納形貌一體測(cè)量

集成厚度測(cè)量模組和三維形貌、粗糙度測(cè)量模組,,使用一臺(tái)機(jī)器便可完成厚度,、TTV、LTV,、BOW,、WARP、粗糙度,、及三維形貌的測(cè)量,。

2、高精度厚度測(cè)量技術(shù)

(1)采用高分辨率光譜共焦對(duì)射技術(shù)對(duì)Wafer進(jìn)行高效掃描,。

(2)搭配多自由度的靜電放電涂層真空吸盤,,晶圓規(guī)格最大可支持至12寸。

(3)采用Mapping跟隨技術(shù),,可編程包含多點(diǎn),、線、面的自動(dòng)測(cè)量,。

3,、高精度三維形貌測(cè)量技術(shù)

(1)采用光學(xué)白光干涉技術(shù),、精密Z向掃描模塊和高精度3D重建算法,Z向分辨率高可到0.1nm,;

(2)隔振設(shè)計(jì)降低地面振動(dòng)和空氣聲波振動(dòng)噪聲,,獲得高測(cè)量重復(fù)性。

(3)機(jī)器視覺(jué)技術(shù)檢測(cè)圖像Mark點(diǎn),,虛擬夾具擺正樣品,,可對(duì)多點(diǎn)形貌進(jìn)行自動(dòng)化連續(xù)測(cè)量。

4,、大行程高速龍門結(jié)構(gòu)平臺(tái)

(1)大行程龍門結(jié)構(gòu)(400x400x75mm),,移動(dòng)速度500mm/s。

(2)高精度花崗巖基座和橫梁,,整體結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,、可靠。

(3)關(guān)鍵運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)采用高精度直線導(dǎo)軌導(dǎo)引,、AC伺服直驅(qū)電機(jī)驅(qū)動(dòng),,搭配分辨率0.1μm的光柵系統(tǒng),保證設(shè)備的高精度,、高效率,。

5、操作簡(jiǎn)單,、輕松無(wú)憂

(1)集成XYZ三個(gè)方向位移調(diào)整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺(tái)平移,、Z向聚焦等測(cè)量前準(zhǔn)工作,。

(2)具備雙重防撞設(shè)計(jì),避免誤操作導(dǎo)致的物鏡與待測(cè)物因碰撞而發(fā)生的損壞情況,。

(3)具備電動(dòng)物鏡切換功能,,讓觀察變得快速和簡(jiǎn)單。

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部分技術(shù)規(guī)格

品牌CHOTEST中圖儀器
型號(hào)WD4000
厚度和翹曲度測(cè)量系統(tǒng)
可測(cè)材料砷化鎵 ;氮化鎵 ;磷化 鎵;鍺;磷化銦;鈮酸鋰;藍(lán)寶石;硅 ;碳化硅 ;玻璃等
測(cè)量范圍150μm~2000μm
掃描方式Fullmap面掃,、米字,、自由多點(diǎn)
測(cè)量參數(shù)厚度、TTV(總體厚度變 化),、LTV,、BOW、WARP,、平面度,、線粗糙度
三維顯微形貌測(cè)量系統(tǒng)
測(cè)量原理白光干涉
干涉物鏡10X(2.5X、5X,、20X,、50X,可選多個(gè))
可測(cè)樣品反射率0.05%~100
粗糙度RMS重復(fù)性0.005nm
測(cè)量參數(shù)顯微形貌 ,、線/面粗糙度、空間頻率等三大類300余種參數(shù)
膜厚測(cè)量系統(tǒng)
測(cè)量范圍90um(n= 1.5)
景深1200um
最小可測(cè)厚度0.4um
紅外干涉測(cè)量系統(tǒng)
光源SLED
測(cè)量范圍37-1850um
晶圓尺寸4",、6",、8"、12"
晶圓載臺(tái)防靜電鏤空真空吸盤載臺(tái)
X/Y/Z工作臺(tái)行程400mm/400mm/75mm

如有疑問(wèn)或需要更多詳細(xì)信息,,請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器咨詢,。


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